- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIP8 , SOP4 и SOP6L с опцией нагрева.
...
...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий и их последующей сортировкой по результатам тестирования. Перемещение...
Система АОИ Mars Q-серии — предназначена для оптического контроля несмонтированных печатных плат (сл...
Программное обеспечение совместимо с ОС Linux, подходит для защищенной инфраструктуры, исключены внешние ограничения на работу оборудования и сбои из-за вирусов. За счет применения LED подсветки обеспечивается длительный срок эксплуатации оборудования...
Локализаторы неисправностей SFL предназначены для упрощения ремонта электронных узлов, печатных плат...
Это помощник для ремонтников. SFL3800 mini позволяет находить неисправности на компонентном уровне в электронных модулях любой сложности и назначения, не имея принципиальной схемы.
Работа Локализатора неисправностей SFL3800 mini основана на использовании...
VeriSpector представляет собой бюджетную систему автоматической оптической инспекции для контроля SM...
|
Система АОИ VeriSpector с очень коротким временем проверки (<5 секунд) даёт возможность производителям выполнять оптический контроль процесса сборки изделий в режиме реального времени, позволяя реализовать ремонт «на лету»... |
Модульные PXI мультиметры предназначены для использования в автоматизированных измерительных система...
Объединив мультиметр с коммутатором, вы можете использовать один мультиметр для последовательного автоматизированного контроля электрических параметров сразу нескольких устройств, одновременно подключенных к тестеру на платформе PXI.
Основные...
Источники питания PXI предназначены для обеспечения питанием тестируемых изделий в автоматизированны...
Для тестирования изделия в режиме работы от батареи используются PXI имитаторы питания от батарей. Они имеют программируемый выход, позволяющий имитировать скорость переходных процессов в ионно-литиевых батарейках, их выходное сопротивление. Имитатор...
PXI модули программируемых резисторов состоят из базовой цепи точных резисторов, которые переключают...
Программируемые резисторы находят множество применений в автоматизированных системах тестирования, проверки и моделирования:
- Моделирование температурных датчиков
- Моделирование барометрических датчиков
- Моделирование тензодатчиков...
Модуль коммутации предназначен для программной маршрутизации входных и выходных сигналов с помощью ...
Широкий спектр коммутаторов PXI включает в себя модули с различными вариантами схем коммутации (поле реле, релейная матрица, мультиплексор). В них используются различные типы реле (твердотельное, электромеханические). Все приборы обладают высокой износостойкостью,...
Для платформы PXI, существует набор модулей для подключения и управления внешним оборудованием по ши...
Использование интерфейсного модуля, при создании системы на платформе PXI, позволяет включить в систему любой управляемый прибор, не ограничивая выбор рамками стандарта. Интерфейсный модуль может быть применим для обмена данными с изделием во время...
Генераторы PXI формируют сигналы, используемые в качестве воздействующих в ходе измерений параметров...
В составе автоматической тестовой системы генераторы находят различные применения:
- эмуляция сигналов различных промышленных датчиков
- генерация сигналов для измерения параметров
- эмуляция искажений и при тестировании в ...
Работа Локализатора неисправностей SFL3500 основана на использовании метода аналогового сигнатурного...
«Совтест АТЕ» расширяет модельный ряд локализаторов неисправностей, запуская в производство локализатор неисправностей SFL3500.
Отличие сигнатуры проверяемой цепи/компонента от эталонной говорит о наличии неисправностей в данной цепи/компонента....
Система тепловизионного контроля электронных модулей представляет собой комплекс для контроля и посл...
Система FT-17 IR построена на базе шасси хорошо апробированного тестера функционального контроля FT-17M, что позволяет реализовать с ее помощью термографические исследования тестируемого изделия в условиях различных режимов нагрузки. Система способна...