Тестер микросхем FT-17DT имеет удобный эргономичный дизайн, что делает его лучшим решением для потребителей, которые занимаются сертификационными испытаниями микросхем или применяют у себя на предприятии входной контроль небольших партий компонентов. По своим техническим возможностям новая модель тестера ни в чем не уступает FT-17 HF, единственное отличие – в максимальном количестве модулей pin-электроники (FT-17DT – 4 модуля и 256 измерительных каналов; FT-17HF – 12 модулей и 786 измерительных каналов).Однако главное преимущество системы FT-17DT заключается в том, что это продукт исключительно российской разработки: от электроники до корпуса. Программное обеспечение тестера – XperTest – также является результатом работы специалистов «Совтест АТЕ» и, что немаловажно, использует русский язык.
Основные области применения:
- Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
- Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ.
- Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.Объекты контроля и измерений:
- Цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.)
- Запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов)
- Аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле)
- RFID (радиочастотные метки, смарт-карты)
Посмотреть весь перечень реализованных тестовых решений вы можете по
ссылке
